Ключевые слова: HTS, SmBCO, bulk, fabrication, microstructure, susceptibility, trapped field distribution, resistive transition, critical caracteristics, Jc/B curves, peak effect
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.